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精密測量技術發(fā)展方向

 更新時間:2009-03-13 點擊量:2795

近年來,精密測量技術發(fā)展迅速,成果喜人。例如在線測量技術,已可進行加工狀態(tài)的實時顯示,及時檢測是否出現(xiàn)異常狀況,從而可大幅度提高生產(chǎn)效率。對于機床控制裝置,則要求高精度化、低成本和小型化。因為諸如汽車發(fā)動機等均要求其組成零部件必須具有非常高的精度,以便減少噪聲、防止環(huán)境污染和節(jié)省能耗,這些都是時代對制造業(yè)提出的緊迫要求。

    在高精度加工和質量管理過程中,隨著光機電一體化、系統(tǒng)化的發(fā)展,光學測量技術有了迅速的發(fā)展,相應的測量機產(chǎn)品大量涌現(xiàn),測量軟件的開發(fā)也日益受到重視。

    近年來,利用光學原理開發(fā)的非接觸測量機及各種裝置非常多。如MARPOSS公司的非接觸式工具測量系統(tǒng)MidaLaser就是利用激光測頭的新型測量機,該機可在CNC機床保持運轉的情況下,自動對所有工具進行非接觸測量,并可根據(jù)測量所得數(shù)值,對工具進行自動定位。索尼精密工程公司的非接觸形狀測量機YP20/21也是利用半導體激光高速高精密自動聚焦傳感器的形狀測量機,所有刻度尺均系標準元件,傳感器和載物臺均由微型計算機控制,具有優(yōu)異的操作性能和數(shù)據(jù)處理功能。YKT公司銷售的非接觸三坐標測量系統(tǒng)Zip250是一種高剛性、高速、高精密的新型測量機。該機載物臺的承載量為25千克,刻度尺的分辨力(X、Y、Z軸)均為0.25微米。機上裝配了帶數(shù)碼法蘭盤的CCD攝像機和DSP處理器,因此,可進行高速圖像處理測量,同時,也可與接觸式測頭并用進行相關測量。

    隨著非接觸、率測量機的大量出現(xiàn),專家們預計,21世紀測量技術的發(fā)展方向大致如下: 

1)測量精度由微米級向納米級發(fā)展,進一步提高測量分辨力;

2)由點測量向面測量過渡,提高整體測量精度(即由長度的精密測量擴展至形狀的精密測量);

3)隨著圖像處理等新技術的應用,遙感技術在精密測量工程中將得到推廣和普及;

4)隨著標準化體制的確立和測量不確定度的數(shù)值化,將有效提高測量的可靠性??傊瑴y量技術必須實現(xiàn)高精度化,同時也要求實現(xiàn)高速化和率化,因此,非接觸測量和率測量也就必然成為新世紀精密測量技術的重要發(fā)展方向。

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